Принимающей стороной выступили два судебно-экспертных учреждения-члена ENFSI: Северо-Западный РЦСЭ Минюста России и Российский федеральный центр судебной экспертизы при Минюста России.
Во встрече приняли участие более ста судебных экспертов: представители 29 криминалистических учреждений-членов ENFSI, а также ассоциированные члены и гости из Белоруссии, Канады, Израиля, Дании, Греции, Сербии и США. В сопровождающей мероприятие выставке приняли участие 7 компаний, производящих криминалистическое оборудование в данной области.
12 июня после регистрации участников прошло заседание руководящего комитета рабочей группы для решения организационных и научно-методических вопросов, а также общение участников встречи в неформальной обстановке.
13 июня состоялось открытие пленарного заседания, начавшегося с приветственной речи директора РФЦСЭ при Минюсте России Смирновой Светланы Аркадьевны.
В рамках организационных мероприятий были проведены выборы в Руководящий комитет рабочей группы. Новыми членами руководящего комитета на ближайшие два года были выбраны Лаура Уилкок (Полиция Шотландии) и Лихачев А.С. (РФЦСЭ при Минюсте России). На общем пленарном заседании были сделаны доклады, представляющие интерес как для экспертов по оружию, так и для экспертов по следам и обстоятельствам выстрела.
14 июня в первой половине дня продолжилось общее пленарное заседание. После перерыва, на котором продолжилось обсуждение сделанных докладов, дальнейшая работа проходила по двум секциям: по исследованию огнестрельного оружия и по исследованию следов и обстоятельств выстрела. В перерывах между докладами и после окончания работы по секциям участники ознакомились со стендовыми докладами, а также с выставкой криминалистического оборудования для производства судебно-баллистических экспертиз и исследований: компании из России, Чехии, Канады, Турции, Германии, Великобритании представили новейшие разработки в сфере автоматизированных баллистических поисковых систем, систем визуализации баллистических исследований, систем микроанализа для электронной микроскопии. |